Analytical Electron Microscopy for Materia...

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Beschreibung

Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the basic principles and the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation.

Zusammenfassung

Detailed explanation of the basic principles and the latest improvements in analytical electron microscopy

Generous illustrations and experimental data

Inhaltsverzeichnis

1. Basic Principles of Analytical Electron Microscopy.- 2. Constitution and Basic Operation of Analytical Electron Microscopes.- 3. Electron Energy-Loss Spectroscopy.- 4. Energy Dispersive X-ray Spectroscopy.- 5. Peripheral Instruments and Techniques for Analytical Electron Microscopy.- Appendix A: Physical Constants, Conversion Factors, Electron Wavelengths.- Appendix B: Electron Binding Energies and Characteristic X-ray Energies.- Appendix C. Vacuum System.

Details

Erscheinungsjahr:	2002
Fachbereich:	Astronomie
Genre:	Importe , Physik
Rubrik:	Naturwissenschaften & Technik
Medium:	Taschenbuch
Inhalt:	ix 152 S. 106 s/w Illustr. 152 p. 106 illus.
ISBN-13:	9784431703365
ISBN-10:	4431703365
Sprache:	Englisch
Herstellernummer:	10868581
Ausstattung / Beilage:	Paperback
Einband:	Kartoniert / Broschiert
Autor:	Oikawa, T. Shindo, Daisuke
Hersteller:	Springer Japan Springer Japan KK
Verantwortliche Person für die EU:	Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, D-69121 Heidelberg, juergen.hartmann@springer.com
Maße:	280 x 210 x 10 mm
Von/Mit:	T. Oikawa (u. a.)
Erscheinungsdatum:	20.09.2002
Gewicht:	0,428 kg

Artikel-ID: 102575427

Zusammenfassung

Detailed explanation of the basic principles and the latest improvements in analytical electron microscopy

Generous illustrations and experimental data

Inhaltsverzeichnis

Details

Erscheinungsjahr:	2002
Fachbereich:	Astronomie
Genre:	Importe , Physik
Rubrik:	Naturwissenschaften & Technik
Medium:	Taschenbuch
Inhalt:	ix 152 S. 106 s/w Illustr. 152 p. 106 illus.
ISBN-13:	9784431703365
ISBN-10:	4431703365
Sprache:	Englisch
Herstellernummer:	10868581
Ausstattung / Beilage:	Paperback
Einband:	Kartoniert / Broschiert
Autor:	Oikawa, T. Shindo, Daisuke
Hersteller:	Springer Japan Springer Japan KK
Verantwortliche Person für die EU:	Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, D-69121 Heidelberg, juergen.hartmann@springer.com
Maße:	280 x 210 x 10 mm
Von/Mit:	T. Oikawa (u. a.)
Erscheinungsdatum:	20.09.2002
Gewicht:	0,428 kg