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First book to address the effect of device reliability and process variations on the RF circuit performance degradations
Present of all kinds RF circuits in the reliability examination
Includes analytical equations, experimental data and simulation results
Includes supplementary material: [...]
Erscheinungsjahr: | 2016 |
---|---|
Fachbereich: | Nachrichtentechnik |
Genre: | Technik |
Rubrik: | Naturwissenschaften & Technik |
Medium: | Taschenbuch |
Reihe: | SpringerBriefs in Reliability |
Inhalt: |
vi
106 S. 101 s/w Illustr. 106 p. 101 illus. |
ISBN-13: | 9789811008825 |
ISBN-10: | 9811008825 |
Sprache: | Englisch |
Herstellernummer: | 978-981-10-0882-5 |
Ausstattung / Beilage: | Paperback |
Einband: | Kartoniert / Broschiert |
Autor: | Yuan, Jiann-Shiun |
Auflage: | 1st ed. 2016 |
Hersteller: |
Springer Singapore
Springer Nature Singapore SpringerBriefs in Reliability |
Maße: | 235 x 155 x 7 mm |
Von/Mit: | Jiann-Shiun Yuan |
Erscheinungsdatum: | 21.04.2016 |
Gewicht: | 0,184 kg |
First book to address the effect of device reliability and process variations on the RF circuit performance degradations
Present of all kinds RF circuits in the reliability examination
Includes analytical equations, experimental data and simulation results
Includes supplementary material: [...]
Erscheinungsjahr: | 2016 |
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Fachbereich: | Nachrichtentechnik |
Genre: | Technik |
Rubrik: | Naturwissenschaften & Technik |
Medium: | Taschenbuch |
Reihe: | SpringerBriefs in Reliability |
Inhalt: |
vi
106 S. 101 s/w Illustr. 106 p. 101 illus. |
ISBN-13: | 9789811008825 |
ISBN-10: | 9811008825 |
Sprache: | Englisch |
Herstellernummer: | 978-981-10-0882-5 |
Ausstattung / Beilage: | Paperback |
Einband: | Kartoniert / Broschiert |
Autor: | Yuan, Jiann-Shiun |
Auflage: | 1st ed. 2016 |
Hersteller: |
Springer Singapore
Springer Nature Singapore SpringerBriefs in Reliability |
Maße: | 235 x 155 x 7 mm |
Von/Mit: | Jiann-Shiun Yuan |
Erscheinungsdatum: | 21.04.2016 |
Gewicht: | 0,184 kg |