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Beschreibung
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Zusammenfassung
Information über die Physik des Bildaufbaus und der Mikroanalyse in Elektronenmikroskopie
Inhaltsverzeichnis
Electron Optics of a Scanning Electron Microscope.- Electron Scattering and Diffusion.- Emission of Backscattered and Secondary Electrons.- Electron Detectors and Spectrometers.- Image Contrast and Signal Processing.- Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence.- Special Techniques in SEM.- Crystal Structure Analysis by Diffraction.- Elemental Analysis and Imaging with X-Rays.
Details
| Erscheinungsjahr: | 2010 |
|---|---|
| Fachbereich: | Physikalische Chemie |
| Genre: | Chemie, Mathematik, Medizin, Naturwissenschaften, Technik |
| Rubrik: | Naturwissenschaften & Technik |
| Medium: | Taschenbuch |
| Reihe: | Springer Series in Optical Sciences |
| Inhalt: |
xiv
529 S. 47 s/w Illustr. |
| ISBN-13: | 9783642083723 |
| ISBN-10: | 3642083722 |
| Sprache: | Englisch |
| Ausstattung / Beilage: | Paperback |
| Einband: | Kartoniert / Broschiert |
| Autor: | Reimer, Ludwig |
| Redaktion: | Hawkes, P.W. |
| Herausgeber: | P W Hawkes |
| Auflage: | Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998 |
| Hersteller: |
Springer-Verlag GmbH
Springer Berlin Heidelberg Springer Series in Optical Sciences |
| Verantwortliche Person für die EU: | Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, D-69121 Heidelberg, juergen.hartmann@springer.com |
| Maße: | 235 x 155 x 30 mm |
| Von/Mit: | Ludwig Reimer |
| Erscheinungsdatum: | 01.12.2010 |
| Gewicht: | 0,814 kg |
Zusammenfassung
Information über die Physik des Bildaufbaus und der Mikroanalyse in Elektronenmikroskopie
Inhaltsverzeichnis
Electron Optics of a Scanning Electron Microscope.- Electron Scattering and Diffusion.- Emission of Backscattered and Secondary Electrons.- Electron Detectors and Spectrometers.- Image Contrast and Signal Processing.- Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence.- Special Techniques in SEM.- Crystal Structure Analysis by Diffraction.- Elemental Analysis and Imaging with X-Rays.
Details
| Erscheinungsjahr: | 2010 |
|---|---|
| Fachbereich: | Physikalische Chemie |
| Genre: | Chemie, Mathematik, Medizin, Naturwissenschaften, Technik |
| Rubrik: | Naturwissenschaften & Technik |
| Medium: | Taschenbuch |
| Reihe: | Springer Series in Optical Sciences |
| Inhalt: |
xiv
529 S. 47 s/w Illustr. |
| ISBN-13: | 9783642083723 |
| ISBN-10: | 3642083722 |
| Sprache: | Englisch |
| Ausstattung / Beilage: | Paperback |
| Einband: | Kartoniert / Broschiert |
| Autor: | Reimer, Ludwig |
| Redaktion: | Hawkes, P.W. |
| Herausgeber: | P W Hawkes |
| Auflage: | Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998 |
| Hersteller: |
Springer-Verlag GmbH
Springer Berlin Heidelberg Springer Series in Optical Sciences |
| Verantwortliche Person für die EU: | Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, D-69121 Heidelberg, juergen.hartmann@springer.com |
| Maße: | 235 x 155 x 30 mm |
| Von/Mit: | Ludwig Reimer |
| Erscheinungsdatum: | 01.12.2010 |
| Gewicht: | 0,814 kg |
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