Zum Hauptinhalt springen
Dekorationsartikel gehören nicht zum Leistungsumfang.
Statistische Methode für die Zuverlässigkeitsanalyse
Taschenbuch von G. Härtler
Sprache: Deutsch

37,99 €*

inkl. MwSt.

Versandkostenfrei per Post / DHL

Lieferzeit 2-4 Werktage

Kategorien:
Beschreibung
aufgenommen werden konnen.
aufgenommen werden konnen.
Inhaltsverzeichnis
1. Mathematische Grundbegriffe.- 1.1. Zufällige Ereignisse und Wahrscheinlichkeiten.- 1.2. Wahrscheinlichkeitsverteilungen.- 1.3. Beobachtungswerte und Stichproben.- 1.4. Ranggrößen.- 1.5. Asymptotische Extremwertverteilungen.- 1.6. Poissonsche Prozesse.- 2. Wahrscheinlichkeitsmodelle für Zuverlässigkeitsuntersuchungen.- 2.1. Allgemeine Lebensdauerverteilung.- 2.2. Exponentialverteilung.- 2.3. Weibull-Verteilung.- 2.4. Gammaverteilung.- 2.5. Logarithmische Normalverteilung.- 2.6. Klassen von Verteilungsfunktionen mit monoton zu- oder abnehmender Ausfallrate.- 3. Statistische Methoden.- 3.1. Grundgesamtheit und mathematische Stichprobe.- 3.2. Schätzen von Parametern.- 3.3. Tests von Parametern.- 3.4. Anpassungstests.- 3.5. Bayessche Statistik.- 4. Wahrscheinlichkeitsmodell Exponentialverteilung.- 4.1. Parameterschätzung.- 4.2. Datenauswertung durch die relative Likelihood-Funktion.- 4.3. Bayessche Schätzung.- 4.4. Tests für den Parameter der einparametrigen Exponentialverteilung.- 4.5. Bayessche Tests für den Parameter der einparametrigen Exponentialverteilung.- 4.6. Informationsgehalt zeitlich gestutzter Stichproben.- 4.7. Anpassungstests für die einparametrige Exponentialverteilung.- 5. Wahrscheinlichkeitsmodell Weibull-Verteilung.- 5.1. Grafische Datenanalyse.- 5.2. Maximum-Likelihood-Schätzung.- 5.3. Lineare Schätzverfahren.- 5.4. Tests für die Parameter der Weibull-Verteilung.- 6. Wahrscheinlichkeitsmodell Gammaverteilung.- 6.1. Grafische Datenanalyse.- 6.2. Maximum-Likelihood-Schätzung.- 6.3. Momentenschätzung.- 6.4. Tests für die Parameter der Gammaverteilung.- 7. Wahrscheinlichkeitsmodell logarithmische Normalverteilung.- 7.1. Grafische Datenanalyse.- 7.2. Maximum-Likelihood-Schätzung.- 7.3. Momentenschätzung.- 7.4. Parameterschätzung mitHilfe von Stichprobenquantilen.- 7.5. Tests für den Maßstabsparameter ? der zweiparametrigen logarithmischen Normalverteilung.- 8. Klassen von Verteilungsfunktionen als Wahrscheinlichkeitsmodell.- 8.1. Schätzung der Ausfallrate.- 8.2. Berechnung von Toleranzgrenzen.- 8.3. Annahmeprüfpläne.- Tabellenanhang.- Sachwörterverzeichnis.
Details
Erscheinungsjahr: 2011
Fachbereich: Technik allgemein
Genre: Mathematik, Medizin, Naturwissenschaften, Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Taschenbuch
Inhalt: 230 S.
48 Fotos
ISBN-13: 9783709195000
ISBN-10: 3709195004
Sprache: Deutsch
Ausstattung / Beilage: Paperback
Einband: Kartoniert / Broschiert
Autor: Härtler, G.
Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 1983
Hersteller: Springer Vienna
Springer-Verlag GmbH
Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, D-69121 Heidelberg, juergen.hartmann@springer.com
Maße: 244 x 170 x 13 mm
Von/Mit: G. Härtler
Erscheinungsdatum: 30.12.2011
Gewicht: 0,409 kg
Artikel-ID: 105395084
Inhaltsverzeichnis
1. Mathematische Grundbegriffe.- 1.1. Zufällige Ereignisse und Wahrscheinlichkeiten.- 1.2. Wahrscheinlichkeitsverteilungen.- 1.3. Beobachtungswerte und Stichproben.- 1.4. Ranggrößen.- 1.5. Asymptotische Extremwertverteilungen.- 1.6. Poissonsche Prozesse.- 2. Wahrscheinlichkeitsmodelle für Zuverlässigkeitsuntersuchungen.- 2.1. Allgemeine Lebensdauerverteilung.- 2.2. Exponentialverteilung.- 2.3. Weibull-Verteilung.- 2.4. Gammaverteilung.- 2.5. Logarithmische Normalverteilung.- 2.6. Klassen von Verteilungsfunktionen mit monoton zu- oder abnehmender Ausfallrate.- 3. Statistische Methoden.- 3.1. Grundgesamtheit und mathematische Stichprobe.- 3.2. Schätzen von Parametern.- 3.3. Tests von Parametern.- 3.4. Anpassungstests.- 3.5. Bayessche Statistik.- 4. Wahrscheinlichkeitsmodell Exponentialverteilung.- 4.1. Parameterschätzung.- 4.2. Datenauswertung durch die relative Likelihood-Funktion.- 4.3. Bayessche Schätzung.- 4.4. Tests für den Parameter der einparametrigen Exponentialverteilung.- 4.5. Bayessche Tests für den Parameter der einparametrigen Exponentialverteilung.- 4.6. Informationsgehalt zeitlich gestutzter Stichproben.- 4.7. Anpassungstests für die einparametrige Exponentialverteilung.- 5. Wahrscheinlichkeitsmodell Weibull-Verteilung.- 5.1. Grafische Datenanalyse.- 5.2. Maximum-Likelihood-Schätzung.- 5.3. Lineare Schätzverfahren.- 5.4. Tests für die Parameter der Weibull-Verteilung.- 6. Wahrscheinlichkeitsmodell Gammaverteilung.- 6.1. Grafische Datenanalyse.- 6.2. Maximum-Likelihood-Schätzung.- 6.3. Momentenschätzung.- 6.4. Tests für die Parameter der Gammaverteilung.- 7. Wahrscheinlichkeitsmodell logarithmische Normalverteilung.- 7.1. Grafische Datenanalyse.- 7.2. Maximum-Likelihood-Schätzung.- 7.3. Momentenschätzung.- 7.4. Parameterschätzung mitHilfe von Stichprobenquantilen.- 7.5. Tests für den Maßstabsparameter ? der zweiparametrigen logarithmischen Normalverteilung.- 8. Klassen von Verteilungsfunktionen als Wahrscheinlichkeitsmodell.- 8.1. Schätzung der Ausfallrate.- 8.2. Berechnung von Toleranzgrenzen.- 8.3. Annahmeprüfpläne.- Tabellenanhang.- Sachwörterverzeichnis.
Details
Erscheinungsjahr: 2011
Fachbereich: Technik allgemein
Genre: Mathematik, Medizin, Naturwissenschaften, Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Taschenbuch
Inhalt: 230 S.
48 Fotos
ISBN-13: 9783709195000
ISBN-10: 3709195004
Sprache: Deutsch
Ausstattung / Beilage: Paperback
Einband: Kartoniert / Broschiert
Autor: Härtler, G.
Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 1983
Hersteller: Springer Vienna
Springer-Verlag GmbH
Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, D-69121 Heidelberg, juergen.hartmann@springer.com
Maße: 244 x 170 x 13 mm
Von/Mit: G. Härtler
Erscheinungsdatum: 30.12.2011
Gewicht: 0,409 kg
Artikel-ID: 105395084
Sicherheitshinweis

Ähnliche Produkte

Ähnliche Produkte