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Thin Film Materials
Stress, Defect Formation and Surface Evolution
Taschenbuch von L. B. Freund (u. a.)
Sprache: Englisch

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Beschreibung
Thin film mechanical behavior and stress presents a technological challenge for materials scientists, physicists and engineers. Describing fundamental concepts with practical case studies, highly illustrated, thorough referencing and containing numerous homework problems, this book will be essential for graduate courses on thin films and the classic reference for researchers.
Thin film mechanical behavior and stress presents a technological challenge for materials scientists, physicists and engineers. Describing fundamental concepts with practical case studies, highly illustrated, thorough referencing and containing numerous homework problems, this book will be essential for graduate courses on thin films and the classic reference for researchers.
Über den Autor
L. Ben Freund is the Henry Ledyard Goddard University Professor in the Division of Engineering at Brown University.
Inhaltsverzeichnis
1. Introduction and overview; 2. Film stress and substrate curvature; 3. Stress in anisotropic and patterned films; 4. Delamination and fracture; 5. Film buckling, bulging and peeling; 6. Dislocation formation in epitaxial systems; 7. Dislocation interactions and strain relaxation; 8. Equilibrium and stability of surfaces; 9. The role of stress in mass transport.
Details
Erscheinungsjahr: 2010
Fachbereich: Atomphysik & Kernphysik
Genre: Importe, Physik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Taschenbuch
ISBN-13: 9780521529778
ISBN-10: 0521529778
Sprache: Englisch
Einband: Kartoniert / Broschiert
Autor: Freund, L. B.
Suresh, S.
Hersteller: Cambridge University Press
Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, D-36244 Bad Hersfeld, gpsr@libri.de
Maße: 244 x 170 x 41 mm
Von/Mit: L. B. Freund (u. a.)
Erscheinungsdatum: 01.11.2010
Gewicht: 1,303 kg
Artikel-ID: 101645328
Über den Autor
L. Ben Freund is the Henry Ledyard Goddard University Professor in the Division of Engineering at Brown University.
Inhaltsverzeichnis
1. Introduction and overview; 2. Film stress and substrate curvature; 3. Stress in anisotropic and patterned films; 4. Delamination and fracture; 5. Film buckling, bulging and peeling; 6. Dislocation formation in epitaxial systems; 7. Dislocation interactions and strain relaxation; 8. Equilibrium and stability of surfaces; 9. The role of stress in mass transport.
Details
Erscheinungsjahr: 2010
Fachbereich: Atomphysik & Kernphysik
Genre: Importe, Physik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Taschenbuch
ISBN-13: 9780521529778
ISBN-10: 0521529778
Sprache: Englisch
Einband: Kartoniert / Broschiert
Autor: Freund, L. B.
Suresh, S.
Hersteller: Cambridge University Press
Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, D-36244 Bad Hersfeld, gpsr@libri.de
Maße: 244 x 170 x 41 mm
Von/Mit: L. B. Freund (u. a.)
Erscheinungsdatum: 01.11.2010
Gewicht: 1,303 kg
Artikel-ID: 101645328
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